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HAST高加速老化測試系統,高加速應力測試(HAST)結合了高溫、高濕度、高壓和時間,以測量元件的可靠性,無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳...
BHAST溫濕度偏壓高加速應力測試 HAST試驗箱,BHAST溫濕度偏壓高加速應力測試,bHAST溫濕度偏壓高加速應力測試(Bias Highly Accele...
HAST半導體高加速應力測試箱BHAST實驗箱,評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1...
BHAST偏壓加速老化試驗箱,適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產品的設...
PCB-HAST絕緣電阻劣化系統高加速壽命老化,評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1...
Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測試系統,評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1...
CAF-HAST絕緣電阻劣化系統高加速壽命老化,是一種可信賴性的試驗設備,原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路...
HAST離子遷移CAF絕緣電阻劣化評估系統,評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1~1...
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統HAST,微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏...
HAST高加速老化壽命試驗箱,試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產...
HAST半導體高加速立式偏壓應力老化試驗箱,HAST高加速壽命試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕...
HAST高加速老化壽命PCB老化試驗箱,試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,...
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